高低溫低氣壓試驗(yàn)箱正確的測(cè)試流程：

　　1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50℃，保持4個(gè)小時(shí)；請(qǐng)勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測(cè)試，非常重要，因?yàn)橥姞顟B(tài)下，芯片本身就會(huì)產(chǎn)生+20℃以上溫度，所以，高低溫試驗(yàn)箱在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過(guò)低溫測(cè)試，必須先將其“凍透”，再次通電進(jìn)行測(cè)試。

　　2、開(kāi)機(jī)，對(duì)樣品進(jìn)行性能測(cè)試，對(duì)比性能與常溫相比是否正常。

　　3、進(jìn)行老化測(cè)試，觀(guān)察高低溫試驗(yàn)箱是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。

　　4、升溫到+90°C，保持4個(gè)小時(shí)，與低溫測(cè)試相反，升溫過(guò)程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個(gè)小時(shí)后，執(zhí)行2、3、4測(cè)試步驟。

　　5、高溫和低溫測(cè)試分別重復(fù)10次。

　　如果測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測(cè)試失敗。

　　高低溫低氣壓試驗(yàn)箱使用條件的5因素：

　　高低溫低氣壓試驗(yàn)箱具有真空系統(tǒng)的存在，此系統(tǒng)是獲得真空度和測(cè)量控制真空度的組成部分，由真空測(cè)量系統(tǒng)與真空獲得機(jī)組組成。試驗(yàn)箱主要是用于產(chǎn)品在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或者是相同作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，而在設(shè)備的使用當(dāng)中應(yīng)注意5方面的要求：

　　一、試驗(yàn)箱的環(huán)境條件要求

　　環(huán)境溫度應(yīng)在5℃～+30℃(24h內(nèi)平均溫度≤30℃)，環(huán)境濕度應(yīng)在≤85%RH;

　　二、試驗(yàn)箱的供電條件要求

　　高低溫低氣壓試驗(yàn)箱電源的使用應(yīng)達(dá)到AC380V±10% 50±0.5Hz 三相五線(xiàn)制的要求，其預(yù)裝功率應(yīng)達(dá)到總功率+2.0KW并且要求用戶(hù)在安裝現(xiàn)場(chǎng)為設(shè)備配置相應(yīng)容量的空氣或動(dòng)力開(kāi)關(guān)，且此開(kāi)關(guān)一定是要獨(dú)立供本設(shè)備使用(建議電源開(kāi)關(guān)容量：32A);

　　三、試驗(yàn)箱的供水條件要求

　　應(yīng)使用純凈水、蒸餾水或者去離子水，其電阻率應(yīng)≥500Ω.m;

　　四、試驗(yàn)箱的安轉(zhuǎn)場(chǎng)地要求

　　高低溫低氣壓試驗(yàn)箱應(yīng)當(dāng)選擇地面平整、通風(fēng)良好、灰塵少，周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)影響以及無(wú)易燃、易爆、腐蝕性物質(zhì)與粉塵的場(chǎng)所，并且試驗(yàn)箱的周?chē)€應(yīng)留出一定的使用與維修空間;

　　五、試驗(yàn)箱的其他注意事項(xiàng)

　　在試驗(yàn)過(guò)程中打開(kāi)試驗(yàn)箱的門(mén)，會(huì)造成箱內(nèi)的溫、濕度波動(dòng);在試驗(yàn)過(guò)程中若多次打開(kāi)門(mén)或長(zhǎng)時(shí)間敞開(kāi)門(mén)或試驗(yàn)樣品散發(fā)濕氣時(shí)，可能就會(huì)形成制冷系統(tǒng)換熱器結(jié)冰的現(xiàn)象從而導(dǎo)致無(wú)法正常工作。